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多靶磁控溅射
SMILE平台设备推介:ULVAC CS-200z多靶磁控溅射
ULVAC CS-200z 多靶磁控溅射系统专为 MEMS、传感器及先进封装领域设计,支持金属、氧化物、氮化物等薄膜的高精度沉积。其核心技术包括多靶位独立控制(标配 2-5 靶位)、高真空环境(极限真空≤1×10⁻⁶ Pa)及动态气体混合功能(Ar、N₂、O₂等),可实现厚度均匀性≤±2.5% 的薄膜沉积。设备兼容 4-8 英寸晶圆及碎片衬底,适配压力传感器、加速度计及三维封装(如 TSV)的量产与研发需求,尤其擅长低温工艺(≤500℃)下的侧壁粗糙度控制(≤50nm)。
1.沉积能力:
支持金属(Al、Cu、Ti)、介质(SiO₂、Si₃N₄)及复合薄膜,典型沉积速率 3-5 nm/min(Al),对光刻胶选择比≥10:1。
2.真空系统:
极限真空≤1×10⁻⁶ Pa,压力控制范围 0.1-100 Pa,配备涡轮分子泵与干泵,抽气时间≤15 分钟(大气压至 1×10⁻³ Pa)。
3.温度控制:
基片台加热范围室温至 500℃(精度 ±1℃),支持低温工艺优化侧壁形貌。
4.均匀性:
薄膜厚度均匀性≤±2.5%@8 英寸晶圆,支持图形密度补偿算法。
5.处理能力:
兼容 4-8 英寸晶圆及 5mm×5mm 碎片,支持手动 / 自动传输系统,单批次处理 19 片晶圆,适配 SECS/GEM 协议工厂集成。
6.自动化:
7 英寸触摸屏人机界面,支持远程监控与故障预警,内置多配方存储功能。
7.安全设计:
UV 与微波屏蔽观察窗,配备过载保护与气体泄漏检测系统,Class 100 洁净腔室减少颗粒污染。
(注:部分参数基于 ULVAC 同系列设备及行业通用标准推断,具体以官方技术文档为准。)